双鸭山EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪即时留言「英飞思科学」

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受激发的样品中的每一种元素会出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些出来的二次X射线的能量及数量或者波长。

元素分析范围：S16-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷硅检测器SDD，可升级Fast SDD多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C

>标准配置>可选配置纯Au初始化标样交流净化稳压电源戒指样品夹黄金标样

通常我们可以对同一个标准样品连续测量50次，考察各个元素的RSD相对标准偏差来考证一个设备的性能。如果光谱仪的硬件技术不过关，仪器的稳定性是没法保证的。设备的灵敏度，也就是检测下限。通常很多厂家吹嘘仪器的检出限可以达到1ppm，这其实都是销售人员的吹嘘。客户可以跟进自己手里的实际样品来检测设备在检测低含量样品时候的表现。比如可以测试塑料里面50ppm的Cl氯元素。

当具有高能量的入射（一次）X射线与原子发生碰撞时，会打破（待测样品的）原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层（如：K层）的电子更容易被激发而从原子中逐放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位，这时处于高能量电子壳层的电子（如：L层）会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不用电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来.

以上信息由专业从事EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪的英飞思科学于2024/4/21 9:16:15发布

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